電子束與樣品作用，當內層電子被擊出后，外層電子掉入原子內層電子軌道而放出X光，不同原子序，不同能階電子所產生的X光各不相同，稱為特征X光，分析特征X光，可分析樣品元素成份。分析特征X光的方式，可分析特征X光的能量分布，稱為EDS，或分析特征X光的波長，稱為WDS。X光能譜的分辨率，在EDS中約有100~200eV的分辨率，在WDS中則有5~10eV的分辨率。由于EDS的分辨率較WDS差，因此在能譜的解析上，較易產生重迭的情形。由于電子束與樣品作用的作用體積(interaction volume)的關系，特征X光的產生和作用體積的大小有關，因此在平面的樣品中，EDS或WDS的空間分辨率，受限于作用體積的大小。單就放大率而言，是指被觀察物體經(jīng)電子顯微鏡放大后，在同一方向上像的長度與物體實際長度的比值。重慶mini sem電子顯微鏡報價多少錢

電子顯微鏡的發(fā)明，極大推動材料科技發(fā)展。電子顯微鏡中，對電子束進行折射的物質為電場或磁場，中心對稱的磁場，其成像性質和高斯透鏡幾何光學一級近似，被稱為磁透鏡。磁透鏡可以是永磁和電磁。地球沿著南北極貫穿，可以看做一個巨大的磁透鏡，磁透鏡焦距固定；電磁透鏡通過改變線圈電流可改變透鏡磁場強度，從而改變透鏡焦距。TEM成像采用平行入射電子束照射樣品，后續(xù)的電磁透鏡通過同時聚焦從樣品各個像素點發(fā)出的不同散射方向透射電子（TE-transmissionelectron），從而對電子束照射區(qū)域進行放大成像，通過調節(jié)中間的電磁透鏡焦距，可實現(xiàn)放大倍數(shù)調節(jié)，較后用投影鏡將物像照射在圖像記錄或顯示上；SEM/STEM使用匯聚電子束照射樣品，逐點掃描成像，空間分辨率和匯聚電子束束斑直徑相關，通過改變電子束掃描區(qū)域大小來改變放大倍數(shù)。重慶mini sem電子顯微鏡報價多少錢電子顯微鏡已成為現(xiàn)代科學技術中不可缺少的重要工具。

當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發(fā)的區(qū)域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。

透射電鏡衍射模式：衍射圖樣的動態(tài)范圍通常非常大。對于晶體樣品，這個動態(tài)范圍通常超出了CCD所能記錄的較大范圍。因此TEM通常裝備有膠卷暗盒以記錄這些圖像。對衍射圖樣點對點的分析非常復雜，這是由于圖像與樣品的厚度和方向、物鏡的失焦、球面像差和色差等等因素都有非常密切的關系。盡管可以對格點圖像對比度進行定量的解釋，然而分析本質上非常復雜，需要大量的計算機仿真來計算。衍射平面還有更加復雜的表現(xiàn)，例如晶體格點的多次衍射造成的菊池線。在會聚電子束衍射技術中，會聚電子束在樣品表面形成一個極細的探針，從而產生了不平行的會聚波前，而匯聚電子束與樣品的作用可以提供樣品結構以外的信息，例如樣品的厚度等等。電子顯微鏡真空裝置由機械真空泵、擴散泵和真空閥門等構成，并通過抽氣管道與鏡筒相聯(lián)接。

由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結構，甚至可以用于觀察但但一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的較小的結構小數(shù)萬倍。TEM在中和物理學和生物學相關的許多科學領域都是重要的分析方法，如大病研究、病毒學、材料科學、以及納米技術、半導體研究等等。在放大倍數(shù)較低的時候，TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。而當放大率倍數(shù)較高的時候，復雜的波動作用會造成成像的亮度的不同，因此需要專業(yè)知識來對所得到的像進行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質的化學特性、晶體方向、電子結構、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。電子顯微鏡電子源能發(fā)射并形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬分之一。重慶mini sem電子顯微鏡報價多少錢

現(xiàn)代電子顯微鏡大多采用電磁透鏡，由很穩(wěn)定的直流勵磁電流通過帶極靴的線圈產生的強磁場使電子聚焦。重慶mini sem電子顯微鏡報價多少錢

掃描電子顯微鏡(scanningelectronmicroscope，SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。目前，掃描電子顯微鏡已被普遍應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產等領域的微觀研究，但在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。重慶mini sem電子顯微鏡報價多少錢

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